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海克斯康发布新型HP-O高精度光学测量解决方案

发布时间:2014-05-14

光学测量的新纪元:速度、精度和可探测性,改写了业界的扫描规则!

日前,海克斯康计量发布HP-O技术解决方案 — 基于调频干涉式光学测距技术,为固定式三坐标测量机所提供的新型光学扫描技术。

HP-O提供了与触发式扫描测头相媲美的精度与可靠性,同时提供了更快的扫描速度、扩大的测量范围,并拥有通用光学非接触测量的优势。如果需要高效的扫描测量,而触发测头难以接近工件,或者零部件会在触发探测过程中变形或受损,HP-O将是高精度触发扫描的替代选择。

HP-O解决方案支持多传感器测量:借助测头更换架,多个光学测头和触发测头可以在一个程序中互换。光学测头可用于单点检测和在开放循环模式中的3轴或4轴扫描测量。该解决方案提供了一个完整的测量系统,包含QUINDOS测量软件 和Leitz PMM-C高精度测量机。

HP-O的新型轻型测头拥有± 30°的接收角度,重复性小于0.3 μm。HP-O的独特优势还包括:

● 非接触测量:使得零件免受任何机械损伤,可避免测针磨损,同时零件不需要任何喷涂标记。

● 测头直径只有3 mm,测量范围高达20 mm,能够接触到触发测头难以到达的特征。

● 减少机械探测的局限性,实现高效的数据采集,提供了更快的扫描速度。

● 空间分辨率高,完成最小细节乃至微观尺寸的测量。

● 以高点密度简便的获得特征信息。

“很多人希望通过光学测量解决触发探测方式的局限性,例如损伤敏感的零件表面,”Ingo Lindner,海克斯康计量的产品线经理说。“然而,光学传感器往往难以整合到三坐标测量机的标准工作流程中,因此,光学测头仅仅使用在特殊情况下。现在,随着海克斯康计量三坐标测量机专门配备的HP-O解决方案的发布,我们相信找到了领先于其他测量系统的高效高精密光学扫描方案。”



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