TESA MICRO-Hite 350/600/900测高仪

杰出的设计，专注测量平面、平行或圆柱表面的内部、外部、高度、深度、阶梯和距离等任何几何特征尺寸。 自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测中记录最大、最小值以及最大最小值之间的差值计算。 TESAIG-13数字式测头可以测量垂直。

TESA MICRO-HITE plus M 350/600/900 控制面板

TESAMICRO-HITEplusM350/600/900控制面板 TESA测高仪：www.brainyht.com.cn。

TESA MICRO-HITE plus M 350/600/900 测高仪

TESAMICRO-HITEplusM测高仪测量功能强大，操作更为直观和轻松，革命性的旋转控制按钮将手动测量的速度和自动测量的精度完美结合 基于其坚固的独特设计，使得测高仪更适合于车间和检测实验室可以用来进行平面、平行面。

TESA-μHite 测高仪

多用途计量解决方案 紧凑的设计，包括测量平台，传感器按Abbe原理同轴安装测量或相对于高度规轴线偏置测头。 平面、平行面或圆柱面的几何体，其内尺寸、外尺寸、高度、深度、台阶及距离尺寸的长度测量。 自动探测孔或轴的顶点。可。